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光譜儀|原子熒光光譜儀|欣晟泰：

發射光譜分析是根據被測原子或分子在激發狀態下發射的特征光譜的強度計算其含量。吸收光譜是根據待測元素的特征光譜，通過樣品蒸汽中待測元素的基態原子吸收被測元素的光譜后被減弱的強度計算其含量。它符合郎珀-比爾定律:A= -lg I/I o= -lgT = KCL式中I為透射光強度，3460直讀光譜儀，I0為發射光強度，光譜儀，T為透射比，L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。

物理原理為：任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。能量下線的能級狀態稱為基態能級（E0=0），其余能級稱為激發態能級，而能下線的激發態則稱為激發上好態。正常情況下，原子處于基態，核外電子在各自能量下線的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子，當外界光能量E恰好等于該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態躍遷到相應的激發態。原來提供能量的光經分光后譜線中缺少了一些特征光譜線，因而產生原子吸收光譜。

電子躍遷到較高能級以后處于激發態，但激發態電子是不穩定的，大約經過10-8秒以后，激發態電子將返回基態或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程稱原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發射光譜過程則釋放輻射能量。

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一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：                                                          1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。                                                                                            

                                                                                             2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。         

3. 色散元件: 通常采用光柵，aa石墨爐原子吸收光譜儀操作規程，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。                                                               4  聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。                  5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

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